本發(fā)明是關(guān)于一種XRF分析的基體校正系數(shù)的計算方法,包括,根據(jù)待測物品的化學(xué)成分及各成分的質(zhì)量百分含量,設(shè)計樣品的化學(xué)成分及各成分的質(zhì)量百分含量,所述的待測物品至少包含待測成分i、和輔助成分k;利用Sherman方程,計算待測成分i在待測物品中的X射線熒光強度Ri和待測成分i在設(shè)計樣品中的X射線熒光強度Ri′;根據(jù)所述的R和R′,計算輔助成分k對待測成分i的基體校正系數(shù)αik,所述的設(shè)計樣品各成分的質(zhì)量百分含量總和等于所述的待測物品各成分的質(zhì)量百分含量總和。本發(fā)明提供的計算方法得到的基體校正系數(shù)更加準確可信。
聲明:
“XRF分析的基體校正系數(shù)的計算方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)