本發(fā)明公開了一種利用X射線熒光光譜分析鈦白粉中TiO2含量的方法,該方法包括:(1)提供鈦白粉標(biāo)準(zhǔn)樣品;(2)采用化學(xué)滴定法和X射線熒光光譜法分別測(cè)試所述鈦白粉標(biāo)準(zhǔn)樣品中二氧化鈦及包膜物和雜質(zhì)元素的含量,并且基于所述化學(xué)滴定法和所述X射線熒光光譜法所得數(shù)據(jù)建立X射線熒光光譜法標(biāo)準(zhǔn)曲線;(3)采用X射線熒光光譜法,并且基于所述X射線熒光光譜法標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)定鈦白粉待測(cè)樣品中二氧化鈦含量。該方法可使得利用X射線熒光光譜分析鈦白粉中TiO2的含量的操作過程更加簡(jiǎn)單易行。
聲明:
“利用X射線熒光光譜分析鈦白粉中TiO2含量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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