本發(fā)明涉及一種沉積巖Os初始值的分析方法,屬于同位素地球化學(xué)分析技術(shù)領(lǐng)域,解決了現(xiàn)有技術(shù)中獲取沉積巖Os初始值耗時久、成功率低、分析測試成本高的問題。該分析方法,包括以下步驟:沉積巖樣品采集;制作巖石薄片;在巖石薄片上建立直角坐標(biāo)系,在掃描電子顯微鏡的背散射圖像下確定分析目標(biāo)所處象限和直角坐標(biāo),對巖石薄片分析目標(biāo)定位;根據(jù)直角坐標(biāo)系、分析目標(biāo)所處象限和分析目標(biāo)的直角坐標(biāo)在LA?MC?ICP?MS光學(xué)鏡頭下再次確定分析目標(biāo)的位置,進行LA?MC?ICP?MS激光原位剝蝕自生黃鐵礦Os同位素測試,測得M/Z185、M/Z187、M/Z188信號數(shù)據(jù);對所述信號數(shù)據(jù)進行處理,得到沉積巖Os初始值。利用該方法能夠直接、快速地獲得沉積巖中的Os初始值。
聲明:
“沉積巖Os初始值的分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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