本申請涉及電極材料裂紋的研究技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及到一種分析圓柱形電極裂紋擴(kuò)展的方法及應(yīng)用。本發(fā)明提出了一種新的適用于活性材料在化學(xué)?機(jī)械載荷下彈塑性變形的張開型裂紋分析的與路徑無關(guān)的J積分形式及分析圓柱形電極裂紋擴(kuò)展的方法。我們發(fā)現(xiàn),在圓柱形電極的
電化學(xué)循環(huán)中,經(jīng)典的J積分在擴(kuò)散應(yīng)力下與路徑有關(guān),在鋰離子電池中鋰離子誘導(dǎo)的活性材料開裂的斷裂分析中存在缺陷,然后提出本發(fā)明的分析方法,并證明在上述情況下積分結(jié)果與積分路徑無關(guān)。同時(shí)我們還使用該發(fā)明提出的方法對具有中心裂紋的圓柱形硅電極在恒定電流充電下進(jìn)行了數(shù)值分析,證實(shí)了本發(fā)明能夠有效分析由鋰化引起的活性材料中裂紋的擴(kuò)展。
聲明:
“分析圓柱形電極裂紋擴(kuò)展的方法及應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)