本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N容量衰減分析方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì),方法包括:獲取待分析電池在預(yù)設(shè)次數(shù)循環(huán)充放電過程中的每次充放電過程對(duì)應(yīng)的微分電容電壓曲線;根據(jù)每一微分電容電壓曲線的變化曲率對(duì)對(duì)應(yīng)微分電容電壓曲線進(jìn)行區(qū)間劃分,其中,每一區(qū)間對(duì)應(yīng)一個(gè)
電化學(xué)反應(yīng)階段;對(duì)多個(gè)微分電容電壓曲線在同一電化學(xué)反應(yīng)階段的曲線變化幅度進(jìn)行比較以選擇出滿足預(yù)設(shè)條件的目標(biāo)電化學(xué)反應(yīng)階段;確認(rèn)目標(biāo)電化學(xué)反應(yīng)階段的電化學(xué)反應(yīng)材料作為影響待分析電池的容量衰減的目標(biāo)因素。本申請(qǐng)實(shí)施例根據(jù)微分電容電壓曲線的變化幅度確定出影響電池容量衰減的因素,為長(zhǎng)循環(huán)壽命
電池材料的理論設(shè)計(jì)提供更加準(zhǔn)確的依據(jù)。
聲明:
“容量衰減分析方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)