本發(fā)明公開(kāi)了一種涂鍍材料表面亞毫米級(jí)缺陷分析方法包括宏觀觀察、截面試樣制備、拋光和綜合分析,突破了傳統(tǒng)缺陷分析中截面試樣制備對(duì)缺陷尺寸的限制,在不借助FIB/SEM雙束系統(tǒng)或是化學(xué)法去除表面涂鍍層的情況下,對(duì)表面亞毫米級(jí)別的截面試樣進(jìn)行了制備并分析,保留試樣的有效信息,有效解決了涂鍍表面亞微米缺陷分析中截面試樣制備的難題。
聲明:
“涂鍍材料表面亞毫米級(jí)缺陷分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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