本發(fā)明涉及一種電致化學(xué)發(fā)光成像方法,包括:S1,控制終端控制電致化學(xué)發(fā)光單元的導(dǎo)電探針接近被測物;S2,控制終端控制導(dǎo)電探針在被測物上方逐點(diǎn)掃描,同時控制電致化學(xué)發(fā)光單元誘導(dǎo)被測物電致化學(xué)發(fā)光;S3,光學(xué)檢測單元檢測導(dǎo)電探針在被測物上方逐點(diǎn)掃描時待測物的電致化學(xué)發(fā)光強(qiáng)度,并將電致化學(xué)發(fā)光強(qiáng)度發(fā)送至控制終端;S4,控制終端將導(dǎo)電探針在逐點(diǎn)掃描時的空間位置和所述電致化學(xué)發(fā)光強(qiáng)度一一對應(yīng),得到電致化學(xué)發(fā)光的分布圖像。本發(fā)明的電致化學(xué)發(fā)光成像方法,基于掃描探針顯微成像原理,具有遠(yuǎn)高于光學(xué)成像方式的成像分辨率。
聲明:
“電致化學(xué)發(fā)光成像系統(tǒng)及其成像方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)