本發(fā)明公開了一種具有薄膜光學(xué)窗片的
電化學(xué)譜學(xué)原位池及其應(yīng)用,所述電化學(xué)譜學(xué)原位池包括電化學(xué)池本體,作為光學(xué)窗片的薄膜材料窗片,進液口、出液口和檢測口,排氣孔,密封橡膠圈,L型玻璃管和上蓋板。本發(fā)明利用納米至原子級厚度薄膜高透光率的特點,將光學(xué)窗片對光信號的散射和削弱降到最低。在譜學(xué)原位表征窗片薄膜和相應(yīng)的范德華異質(zhì)結(jié)構(gòu)薄膜的光電化學(xué)性能的過程中,還可以完全排除空氣或溶液對譜學(xué)信號和光信號的干擾。本發(fā)明的電化學(xué)譜學(xué)原位池可以實現(xiàn)薄膜電極表面電化學(xué)行為的高靈敏度原位譜學(xué)表征,并在極限離子濃度檢測方面具有實用價值。
聲明:
“具有薄膜光學(xué)窗片的電化學(xué)譜學(xué)原位池及其應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)