診斷性
電化學(xué)阻抗譜(EIS)程序用于測(cè)量一個(gè)或多于一個(gè)檢測(cè)電極的阻抗相關(guān)參數(shù)的數(shù)值。所述參數(shù)可包括實(shí)阻抗、虛阻抗、阻抗幅值和/或相位角。所述阻抗相關(guān)參數(shù)的測(cè)量值隨后用于進(jìn)行傳感器診斷,基于來自多個(gè)冗余檢測(cè)電極的信號(hào)計(jì)算高可靠性的融合傳感器葡萄糖值,校正傳感器,檢測(cè)一個(gè)或多于一個(gè)檢測(cè)電極的附近的干擾物,以及測(cè)試電鍍電極的表面特性。有利地是,阻抗相關(guān)參數(shù)可被定義成在特定的頻率范圍內(nèi)基本獨(dú)立于葡萄糖。專用集成電路(ASIC)能夠執(zhí)行基于EIS的診斷、融合算法和其他基于EIS參數(shù)的測(cè)量值的過程。
聲明:
“電化學(xué)阻抗譜在傳感器系統(tǒng)、設(shè)備以及相關(guān)方法中的應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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