本發(fā)明公開一種應用紫外可見漫反射光譜鑒別珍珠表層的化學組成及結構形貌一致性的方法,通過對珍珠表面不同位置處進行紫外可見漫反射光譜的檢測采集,并基于譜圖的一致性即相似度進而判斷珍珠外層組織結構單元即珍珠層化學組成、內部結構及外表面結構形貌一致性。本發(fā)明所述的鑒別方法準確、無損、快速,可為珍珠的改色處理、質量等級定性提供便捷、適用的評判性依據(jù)與指導。
聲明:
“應用紫外可見漫反射光譜鑒別珍珠表層的化學組成及結構形貌一致性的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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