本發(fā)明提供一種基于微區(qū)
電化學(xué)系統(tǒng)的薄液膜下樣品腐蝕數(shù)據(jù)采集裝置及方法,所述裝置由微區(qū)電化學(xué)工作臺(tái)、微區(qū)樣品池、XYZ三維移動(dòng)平臺(tái)、探針、工作電極、放大鏡、人機(jī)終端、萬(wàn)用表組成。本發(fā)明主要特點(diǎn)是在微區(qū)系統(tǒng)下精準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)薄液膜厚度的設(shè)定,并連續(xù)快速測(cè)量該薄液膜厚度下局部腐蝕電化學(xué)信息。本發(fā)明的有益效果在于:實(shí)驗(yàn)裝置自動(dòng)化程度高,實(shí)驗(yàn)方法簡(jiǎn)單,有效地將微區(qū)系統(tǒng)下薄液膜厚度的設(shè)定與腐蝕信息的監(jiān)測(cè)相結(jié)合,縮短測(cè)試時(shí)間,提高測(cè)試效率。本發(fā)明裝置自動(dòng)化程度高,操作方便,設(shè)備反應(yīng)靈敏。
聲明:
“基于微區(qū)電化學(xué)系統(tǒng)的薄液膜下樣品腐蝕數(shù)據(jù)采集裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)