本發(fā)明公開了一種基于高光譜的潛在指紋檢測方法。具體涉及刑偵指紋痕跡檢測領(lǐng)域。具體方法如下:在標(biāo)準(zhǔn)檢測工作環(huán)境下,使用便攜式高光譜
檢測儀對潛在指紋進(jìn)行拍攝,將所獲數(shù)據(jù)經(jīng)過預(yù)處理和PCA降維處理后,對指紋進(jìn)行形態(tài)學(xué)和組成成分分析,并結(jié)合大數(shù)據(jù)庫獲得最終的檢測分析結(jié)果,將比對檢索出的對象信息和痕量化學(xué)組分的初步分析結(jié)果進(jìn)行展示。本發(fā)明提供的潛在指紋檢測方法,能夠在現(xiàn)場指紋樣本無損的情況下獲得指紋的比對結(jié)果,檢測結(jié)果快速可靠,提高了刑偵工作者的效率。
聲明:
“基于高光譜的潛在指紋檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)