本發(fā)明是一種用于2,4?D檢測的人工抗體的制備方法。本發(fā)明制備了對(duì)2,4?D特異性識(shí)別的Fe3O4納米粒子表面分子印跡聚合物,并結(jié)合化學(xué)發(fā)光免疫分析法,實(shí)現(xiàn)對(duì)2,4?D的痕量檢測,檢測限為1.33×10?8mg/L。其制備包括如下步驟:首先,制備了強(qiáng)磁性的Fe3O4納米粒子,然后,以2,4?D為印跡分子,加入功能單體、交聯(lián)劑和引發(fā)劑,制備2,4?D磁性分子印跡聚合物,用洗脫液洗脫位于印跡殼層中的2,4?D分子,洗脫后的人工抗體具有對(duì)酶標(biāo)2,4?D的特異性識(shí)別位點(diǎn),實(shí)現(xiàn)對(duì)酶標(biāo)2,4?D的選擇性識(shí)別,最后,加入化學(xué)發(fā)光底液,實(shí)現(xiàn)對(duì)2,4?D的痕量檢測。該方法制備簡單,選擇性高,敏感性高,檢測限低。
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“用于2,4-D檢測的人工抗體的制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)