本發(fā)明涉及一種基于
石墨烯/金@銀納米顆粒修飾電極檢測碘離子的方法,屬于
分析檢測技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明首先制備石墨烯/金@銀納米顆粒修飾電極,然后利用碘離子(I
?)可以在銅離子的存在下將電極表面的銀單質(zhì)氧化為碘化銀,利用修飾電極表面銀的溶出伏安信號的降低來實現(xiàn)對目標碘離子的檢測。該方法將氧化還原反應(yīng)與
電化學溶出伏安檢測法相結(jié)合,具有非常高的檢測靈敏度,具有操作簡單,特異性強,靈敏度高且不需要復雜儀器的優(yōu)點,可以應(yīng)用于實際樣品中碘離子的高靈敏檢測。
聲明:
“基于石墨烯/金@銀納米顆粒修飾電極檢測碘離子的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)