本發(fā)明公開(kāi)了一種全二維色譜分離的峰檢測(cè)方法,屬于分析化學(xué)領(lǐng)域。該方法基于對(duì)原始一維分離色譜峰的峰檢測(cè)與二維分離平面上的峰重構(gòu),完成全二維分離的色譜峰檢測(cè)。一維色譜峰的檢測(cè),首先通過(guò)平滑和背景扣除等提高數(shù)據(jù)質(zhì)量,預(yù)先定義色譜峰響應(yīng)區(qū)間的劃分?jǐn)?shù)目,將原始色譜圖進(jìn)行完整切割,基于響應(yīng)線與各色譜峰的交匯點(diǎn),以及用戶定義的峰點(diǎn)數(shù)閾值和色譜的單峰特性,尋找色譜峰頂點(diǎn)與保留時(shí)間位置,并通過(guò)改變響應(yīng)劃分?jǐn)?shù)目及其對(duì)峰檢測(cè)結(jié)果的影響,獲得最終一維峰檢測(cè)結(jié)果;二維分離面的峰重構(gòu),則基于一維分離的峰檢測(cè)結(jié)果與實(shí)驗(yàn)條件,包括調(diào)諧時(shí)間與采樣頻率,以及色譜峰在二維分離上的保留時(shí)間漂移量,融合符合預(yù)設(shè)條件的相鄰一維色譜峰,計(jì)算平均保留時(shí)間,記錄并輸出全二維分離的色譜峰檢測(cè)結(jié)果。
聲明:
“全二維色譜分離的峰檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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