本發(fā)明涉及
電化學分析檢測領域,且特別涉及一種
碳納米管/金納米
復合材料修飾電極在日落黃的檢測中的應用。將這種碳納米管/金納米復合材料修飾電極用于對日落黃的檢測,檢出限(3S/N)為0.02μmol/L,低于單層MMB修飾的金電極測定S的檢出限(44μmol/L)。通過使用這種碳納米管/金納米復合材料修飾電極對日落黃進行檢測,能夠有效地解決現(xiàn)有技術中對日落黃的檢測,靈敏度低,裝置復雜,成本高,不便于現(xiàn)場檢測的問題。
聲明:
“碳納米管/金納米復合材料修飾電極在日落黃的檢測中的應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)