本申請?zhí)峁┝艘环NAI輔助檢測方法、裝置、電子設(shè)備及計算機可讀存儲介質(zhì),所述方法包括:獲取待檢測對象的2D檢測信息;根據(jù)所述2D檢測信息,使用缺陷檢測模型得到缺陷的位置信息;根據(jù)所述缺陷的位置信息控制3D輪廓儀對所述待檢測對象進(jìn)行區(qū)域性掃描,以使所述3D輪廓儀得到所述缺陷的輪廓信息。上述方法將復(fù)雜場景下待檢測對象的缺陷初定位問題交給AI技術(shù)處理,利用AI技術(shù)中對大數(shù)據(jù)強化學(xué)習(xí)的優(yōu)勢解決目前傳統(tǒng)圖像算法無法解決的問題,即使用2D深度學(xué)習(xí)識別定位,加上3D機器視覺定量分析,大大降低檢測過程的復(fù)雜程度,同時顯著提高檢測的效率和準(zhǔn)確度。
聲明:
“AI輔助檢測方法、裝置、電子設(shè)備及計算機可讀存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)