本發(fā)明屬于分析化學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種低本底的超痕量離子檢測(cè)裝置及方法,該裝置包括濾氣系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng),所述濾氣系統(tǒng)包括壓縮空氣氣源、第一吸收瓶、第二吸收瓶、第三吸收瓶和安全瓶,所述檢測(cè)系統(tǒng)包括手套箱、大體積自動(dòng)進(jìn)樣器、離子色譜儀;所述濾氣系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)通過安全瓶和手套箱相連接,大體積自動(dòng)進(jìn)樣器置于手套箱內(nèi)部,還公開了一種檢測(cè)方法,該裝置結(jié)合方法能夠創(chuàng)造一個(gè)低空白的進(jìn)樣環(huán)境,降低空白本底,減少檢測(cè)的干擾,大體積進(jìn)樣能夠提高儀器的靈敏度和準(zhǔn)確性,還具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、易于操作、運(yùn)行成本低的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“低本底的超痕量離子檢測(cè)裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)