本發(fā)明公開了一種基于高光譜透射技術譜峰面積的臍橙糖度檢測快速建模法,涉及水果內(nèi)部品質(zhì)無損檢測技術領域。方法是:①獲取臍橙樣品半透射高光譜圖譜;②利用化學方法測定臍橙樣品的糖度值;③選取臍橙樣品平均高光譜圖譜;④計算高光譜圖譜譜峰面積;⑤建立臍橙樣品糖度預測模型,進行品質(zhì)檢測。本發(fā)明基于高光譜技術通過半透射方式采集臍橙樣品高光譜圖譜可以有效獲取臍橙內(nèi)部品質(zhì)信息,提高水果內(nèi)部品質(zhì)的檢測水平和檢測效率;該建模法建模效率高、準確率高,模型運算速度快,可以快速檢測水果的糖度內(nèi)部品質(zhì)指標,對水果的內(nèi)部品質(zhì)進行評價。
聲明:
“基于高光譜透射技術譜峰面積的臍橙糖度檢測快速建模法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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