本發(fā)明公開了一種基于比率法檢測(cè)DNA
芯片熒光信號(hào)的方法。它利用一種熒光物質(zhì)標(biāo)記寡核苷酸探針和另一種熒光物質(zhì)標(biāo)記目標(biāo)DNA分子,通過(guò)檢測(cè)DNA芯片上的寡核苷酸探針的點(diǎn)樣量、探針固定量(密度)的熒光強(qiáng)度,控制芯片的制作質(zhì)量;根據(jù)寡核苷酸探針熒光強(qiáng)度與目標(biāo)分子熒光強(qiáng)度的比值,來(lái)衡量該點(diǎn)是否有雜交信號(hào),本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn):該方法能夠監(jiān)測(cè)芯片表面化學(xué)處理是否均勻、固定探針是否均勻,同時(shí)解決了由于固定探針數(shù)量的變化而導(dǎo)致的熒光信號(hào)變化的問(wèn)題。
聲明:
“基于比率法檢測(cè)DNA芯片熒光信號(hào)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)