本發(fā)明屬于監(jiān)測加工領(lǐng)域,具體涉及一種碳量子點及其用于檢測痕量亞砷酸鹽的方法。先進行GJPTW的制備,然后在進行SH?GJPTW的制備,最后進行相應(yīng)的檢測亞砷酸鹽的處理。本發(fā)明所述方法檢測熒光光譜的熒光分光光度計設(shè)備費用較低,無需繁瑣處理;所用到的碳量子點熒光探針中的碳納米顆粒具有很好的動力學(xué)和熱力學(xué)性能、物理化學(xué)穩(wěn)定性、良好的水溶性、高耐光性、表面性質(zhì)多樣性、易于化學(xué)修飾形成功能性的環(huán)境友好的碳納米顆粒;制備的碳量子點不含重金屬;對于痕量三價砷具有很好的靈敏度。
聲明:
“碳量子點的制備方法及其用于檢測痕量亞砷酸鹽的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)