本發(fā)明公開了一種SMA基因的SNP位點的檢測方法,通過準備玻璃片,在玻璃基片上加上保護基團,進行第一次光刻、第二次光刻和第三次光刻,來將第一堿基加到玻璃基片上,使第一堿基就連接到玻璃基片上,第二堿基鋪到玻璃基片上,玻璃基片上那些在第二輪光照射當中,去掉了保護基團的位置,就會長出一個第二堿基,然后在加上第三堿基,經(jīng)過三次堿基的增加,使玻璃基片長出DNA鏈,以及通過熒光化學物質標記后,在將待測基因依次注射到嵌有
芯片的玻璃基片上,通過激光掃描,根據(jù)熒光強弱檢測處被檢測序列的變異即可,本發(fā)明涉及醫(yī)學檢測技術領域。該SMA基因的SNP位點的檢測方法,解決檢測通量較小,檢測的準確性不高和成本費昂貴的問題。
聲明:
“SMA基因的SNP位點的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)