本發(fā)明涉及一種基于導(dǎo)電聚合物納米孔集成結(jié)構(gòu)的納米孔檢測(cè)系統(tǒng)及其制備方法,該系統(tǒng)包括電解質(zhì)溶液腔室、導(dǎo)電聚合物納米孔集成結(jié)構(gòu)和電流檢測(cè)系統(tǒng);導(dǎo)電聚合物納米孔集成結(jié)構(gòu)包括設(shè)置有納米孔的納米孔層薄膜和具有微納結(jié)構(gòu)的導(dǎo)電聚合物薄膜;導(dǎo)電聚合物納米孔集成結(jié)構(gòu)設(shè)置于電解質(zhì)溶液腔室內(nèi)部并將其分成上腔室和下腔室形成通道;電流檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)置于上和下腔室內(nèi)。本發(fā)明通過對(duì)固態(tài)納米孔進(jìn)行簡單的化學(xué)修飾,將導(dǎo)電聚合物和納米孔進(jìn)行集成,利用形成的多孔微納結(jié)構(gòu)使長鏈聚合物在穿過納米孔前的運(yùn)動(dòng)路徑復(fù)雜化,結(jié)合導(dǎo)電聚合物與長鏈聚合物分子間的靜電作用力,減緩甚至控制長鏈聚合物在納米孔中的傳輸速度,有效提高了納米孔檢測(cè)長鏈狀聚合物的可靠性。
聲明:
“基于導(dǎo)電聚合物納米孔集成結(jié)構(gòu)的納米孔檢測(cè)系統(tǒng)及其制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)