本發(fā)明公開(kāi)了一種高通量、超靈敏檢測(cè)的點(diǎn)陣陣列增強(qiáng)
芯片,屬于食品安全檢測(cè)領(lǐng)域。本發(fā)明通過(guò)在親水基底上化學(xué)鍵合單層納米金顆粒,將納米金材料通過(guò)靜電吸附作用自然沉降至芯片孔洞中,并形成規(guī)則排列的點(diǎn)陣??锥磁挪嫉慕痤w粒在顆粒表面活性劑(CTAB)的間隔下形成等離子體區(qū)域增強(qiáng)熱點(diǎn)所排布的納米金顆粒相互之間聚集形成長(zhǎng)程效應(yīng),從而提高了芯片的檢測(cè)效率和靈敏度。
聲明:
“高通量、超靈敏檢測(cè)的點(diǎn)陣陣列增強(qiáng)芯片” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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