本發(fā)明公開了基于關(guān)鍵點(diǎn)的3D目標(biāo)檢測及其參數(shù)化半徑學(xué)習(xí)方法及系統(tǒng)，方法具體為：原始對于點(diǎn)云下采樣得到關(guān)鍵點(diǎn)，并對原始點(diǎn)云進(jìn)行體素化處理，后輸入3D稀疏卷積網(wǎng)絡(luò)中，得到體素特征；采用構(gòu)造點(diǎn)特征提取方法，將體素特征聚合到關(guān)鍵點(diǎn)上，得到關(guān)鍵點(diǎn)特征；通過目標(biāo)感知特征池化，學(xué)習(xí)關(guān)鍵點(diǎn)到目標(biāo)中心的偏移量，在目標(biāo)感知鄰域內(nèi)進(jìn)行特征聚合，得到候選點(diǎn)及對應(yīng)特征；以候選點(diǎn)為中心進(jìn)行候選框回歸，提取特征并對候選框進(jìn)行二次回歸和得分預(yù)測，得到3D目標(biāo)檢測結(jié)果；將點(diǎn)云特征聚合采樣半徑作為可學(xué)習(xí)參數(shù)，通過反向傳播更新采樣半徑，得到最優(yōu)采樣半徑參數(shù)；解決目標(biāo)中心回歸難度高、不準(zhǔn)確，以及需要手工調(diào)節(jié)特征聚合采樣半徑問題。