本發(fā)明公開一種OLED顯示裝置及其封裝效果的檢修方法,涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,以提高OLED顯示裝置的出廠合格率。所述OLED顯示裝置包括襯底基板、OLED器件、封裝結(jié)構(gòu),封裝結(jié)構(gòu)與襯底基板之間形成封裝空腔,OLED器件位于封裝空腔內(nèi);所述OLED顯示裝置還包括檢測部,檢測部位于封裝空腔內(nèi),檢測部對水或/和氧的化學(xué)活性與OLED器件對水或/和氧的化學(xué)活性相同,或者,檢測部對水或/和氧的化學(xué)活性高于OLED器件對水或/和氧的化學(xué)活性。所述OLED顯示裝置用于顯示畫面。
聲明:
“OLED顯示裝置及其封裝效果的檢修方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)