一種用于痕量探測(cè)儀的樣品處理方法及系統(tǒng),包括:采樣載體,用于通過擦拭待檢物體表面而將其表面附著的物質(zhì)采集到采樣載體的表面上;以及痕量探測(cè)儀,其進(jìn)樣裝置中設(shè)有進(jìn)樣件,通過先將采樣載體表面上所采集的物質(zhì)轉(zhuǎn)移到該進(jìn)樣件的表面上,再對(duì)轉(zhuǎn)移到進(jìn)樣件的表面上的物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)。本發(fā)明中,通過用化學(xué)纖維材料制成的采樣載體擦拭待測(cè)物品表面,將采樣載體所采集到的樣品通過機(jī)械方式轉(zhuǎn)移到進(jìn)樣裝置的金屬膜或細(xì)網(wǎng),再通過加熱使樣品氣化,送入痕量
檢測(cè)儀進(jìn)行分析。由此可以提高樣品采集和熱脫附效率,同時(shí)避免對(duì)采樣材料直接進(jìn)行加熱處理,減少本底干擾。
聲明:
“用于痕量探測(cè)儀的樣品處理系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)