本發(fā)明公開了一種測量固態(tài)超薄膜吸收光譜的方法及相應(yīng)的光譜測量裝置。本發(fā)明將被測試的固態(tài)超薄膜淀積在光波導(dǎo)導(dǎo)波層局部表面上,通過改變固態(tài)超薄膜上方介質(zhì)的折射率而使分布在固態(tài)超薄膜內(nèi)部的波導(dǎo)光能量發(fā)生變化,從而改變固態(tài)超薄膜對導(dǎo)波光的吸收,由此獲得固態(tài)超薄膜的吸收光譜。本發(fā)明靈敏度高,操作簡單,測量時間短,不僅能夠用于分析固態(tài)超薄膜光譜的偏振依賴性和界面依賴性,還可用于制作化學(xué)和生物傳感器。
聲明:
“固態(tài)超薄膜吸收光譜測量方法及相應(yīng)的光譜測量裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)