本發(fā)明提供了一種提高孔結(jié)構(gòu)參數(shù)測定準(zhǔn)確性的方法,該方法適用于納米多孔材料孔徑及比表面積參數(shù)測定領(lǐng)域。該方法具體包括以下步驟:使用比表面積及孔徑分析儀測試待測材料樣品的吸附?脫附曲線。根據(jù)測試數(shù)據(jù)得到待測材料的孔徑尺寸范圍數(shù)據(jù);利用巨正則系綜(GCMC)分子模擬系統(tǒng),選定待測材料孔徑范圍內(nèi)的具體數(shù)值,搭建模擬計算結(jié)構(gòu)模型,通過不斷增加或降低主體流體的化學(xué)勢得到納米孔內(nèi)流體穩(wěn)定態(tài)和亞穩(wěn)態(tài)組成的吸附滯后環(huán);在吸附滯后環(huán)內(nèi)一給定吸附壓力位置,再選擇一個具有中間狀態(tài)的顆粒系統(tǒng),該方法所涉及的模擬計算可以鑲嵌到測試儀器的分析軟件中,操作簡單,可有效提高納米多孔材料孔徑及比表面積的檢測結(jié)果準(zhǔn)確度。
聲明:
“提高孔結(jié)構(gòu)參數(shù)測定準(zhǔn)確性的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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