本發(fā)明提供一種利用X射線熒光光譜法測定鉬制品中鑭含量的方法,采用已知鑭含量的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行X射線熒光光譜法測定并制得光譜強(qiáng)度與鑭含量對應(yīng)的工作曲線,然后待測鉬制品完全氧化后,與混合熔劑熔融制備成樣片,用X射線熒光光譜儀測定樣片中被測元素的特征熒光光譜強(qiáng)度并與工作曲線作對比,從而得到鉬制品中的鑭含量。其測試過程中未使用腐蝕性酸堿對樣品進(jìn)行化學(xué)濕法處理其操作過程簡單,檢測周期短,不使用腐蝕性強(qiáng)酸強(qiáng)堿,比已查到相關(guān)期刊或?qū)@麡悠诽幚矸椒ǜ啽?,樣品熔融稀釋倍率小,熔融時間短,檢測范圍寬,結(jié)果穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性高,適用于批量生產(chǎn)分析。
聲明:
“利用X射線熒光光譜法測定鉬制品中鑭含量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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