本發(fā)明涉及發(fā)光材料非線性光學(xué)性質(zhì)的測量方法。按照國際專利分類表(IPC)劃分屬于物理部,儀器分部,測量;測試類,借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料組中的便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器領(lǐng)域。本發(fā)明主要針對現(xiàn)有Z掃描技術(shù)無法測量發(fā)光材料非線性光學(xué)性質(zhì)的不足,通過在測試裝置中引入光學(xué)濾波技術(shù)來消除發(fā)光材料的熒光發(fā)射對Z掃描測試產(chǎn)生的影響。提出一種改進(jìn)的可以針對發(fā)光材料同時進(jìn)行非線性光學(xué)吸收效應(yīng)及非線性折射效應(yīng)測試的方法。
聲明:
“測量發(fā)光材料非線性光學(xué)性質(zhì)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)