本發(fā)明屬于合金痕量元素分析技術(shù),涉及一種測(cè)定單晶高溫合金中的超低硫(0.0002%~0.0020%)含量的方法。本發(fā)明采用高純化學(xué)試劑硫酸鉀制備硫標(biāo)準(zhǔn)試樣,其中的硫含量是已知的,這樣可以確保儀器校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性。通過助熔劑試驗(yàn),選擇了最佳助熔劑從而使材料中硫完全釋放,提高了測(cè)量的準(zhǔn)確度。本發(fā)明解決了單晶高溫合金中的超低硫測(cè)定難題,降低了硫測(cè)量下限,下限達(dá)到0.0002%。提高了測(cè)定結(jié)果的準(zhǔn)確性,為單晶高溫合金研制、冶煉、應(yīng)用和質(zhì)量控制提供了可靠的技術(shù)保障。
聲明:
“測(cè)定單晶高溫合金中的超低硫含量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)