本發(fā)明屬于化學(xué)物質(zhì)檢測技術(shù)領(lǐng)域,利用分光瞳設(shè)計(jì),有效屏蔽激發(fā)光路中光學(xué)元件自發(fā)熒光對結(jié)果的干擾,提高系統(tǒng)的信噪比。此外,將差動(dòng)共焦物體表面定位技術(shù)和分立熒光光譜和熒光壽命測量技術(shù)相融合;利用差動(dòng)共焦技術(shù)實(shí)現(xiàn)待測樣品表面三維形貌的高精度測量,同時(shí)利用分立熒光光譜及熒光壽命探測技術(shù)實(shí)現(xiàn)待測樣品表面各點(diǎn)的熒光光譜及熒光壽命的高靈敏度檢測,進(jìn)而得到三維高分辨空間物質(zhì)成分分布信息。并且在樣品表面的熒光信息測量過程中,本發(fā)明使用了多種不同的分立熒光探測手段,使用者可以根據(jù)待測物質(zhì)的化學(xué)特性,選擇使用是熒光光譜檢測,還是熒光壽命檢測。本發(fā)明在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)以及臨床醫(yī)學(xué)診斷領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。
聲明:
“分光瞳差動(dòng)共焦分立熒光光譜及熒光壽命探測方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)