本發(fā)明涉及
石墨烯的轉(zhuǎn)移技術(shù)和DNA的固定技術(shù),利用石墨烯修飾高電子遷移率晶體管(HEMT)并且固定探針DNA,進行DNA雜化的測量,實現(xiàn)快速、靈敏及新穎電流響應(yīng)模式的DNA雜化檢測的利用石墨烯修飾高電子遷移率晶體管測量DNA雜化的方法,該方法首先利用分子束外延法構(gòu)建HEMT;隨后利用石墨烯將探針DNA固定到HEMT柵極表面;最后滴加目標DNA進行雜化測量獲得響應(yīng)電流。利用本方法可實現(xiàn)對實際樣品的DNA雜化檢測。本方法簡化了探針DNA固定到器件表面的過程,舍棄了復(fù)雜的化學過程。本方法中獲得了新穎的DNA雜化識別模式。
聲明:
“利用石墨烯修飾高電子遷移率晶體管測量DNA雜化方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)