本發(fā)明公開了一種粉末狀
半導(dǎo)體材料電導(dǎo)率的測量方法。利用基于柵狀電極的電導(dǎo)率測試裝置,方法如下:于柵狀電極蝕刻槽中,滴加已知標(biāo)準(zhǔn)電導(dǎo)率的標(biāo)準(zhǔn)電解質(zhì)溶液,通過
電化學(xué)工作站測定標(biāo)準(zhǔn)電解質(zhì)溶液的電阻;計算電池常數(shù);于柵狀電極蝕刻槽中,添加待檢測粉末狀半導(dǎo)體材料,用玻璃壓片壓嚴(yán),通過電化學(xué)工作站測定待檢測粉末狀半導(dǎo)體材料的電阻;計算待檢測粉末狀半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率。本發(fā)明原理簡單,設(shè)備均為實驗室常見測試儀器和材料,搭建和測試成本低且簡單易行,可測半導(dǎo)體種類多,且測試中對材料無損害可回收,數(shù)據(jù)處理簡便,結(jié)果準(zhǔn)確。本發(fā)明為測量半導(dǎo)體材料電導(dǎo)率提供了新的手段,給科研工作帶來了很大的便利。
聲明:
“粉末狀半導(dǎo)體材料電導(dǎo)率的測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)