本發(fā)明公開了屬于微機(jī)械加工技術(shù)領(lǐng)域的一種植入式雙性能測試微電極陣列。該微電極陣列由至少一個以上微電極和外部電纜束組成,每個微電極包括電生理學(xué)微電極、
電化學(xué)微電極、電極基底、電極內(nèi)引線、電生理學(xué)引線接口、電化學(xué)引線接口、引線接口基底、電生理學(xué)電極表面涂層、電化學(xué)表面電極涂層。具有涂層的微電極分布在電極基底的表面,并且在水平方向上有兩個距離相對適宜且對應(yīng)的微電極,分別用于電生理和電化學(xué)測量,外部電纜束中的電纜將引線接口與外部設(shè)備連接起來向外部設(shè)備輸出信號。本發(fā)明基于神經(jīng)系統(tǒng)的空間結(jié)構(gòu)特點(diǎn),能夠在有效的空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)神經(jīng)元的電生理電信號記錄和電化學(xué)遞質(zhì)的同時檢測。
聲明:
“植入式雙性能測試微電極陣列” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)