本發(fā)明屬于化學物質(zhì)檢測技術(shù)領域,涉及一種差動共焦分立熒光光譜及熒光壽命探測方法與裝置。本發(fā)明基本思想是將具有精密軸向分辨率的差動共焦物體表面定位技術(shù)和分立熒光光譜和熒光壽命測量技術(shù)相融合;利用差動共焦技術(shù)解決待測樣品表面三維形貌的高精度測量,同時利用分立熒光光譜及熒光壽命探測技術(shù)解決待測樣品表面各點的熒光光譜及熒光壽命的高靈敏度檢測,進而得到三維高分辨空間物質(zhì)成分分布信息。本發(fā)明首次將差動共焦測量技術(shù)和熒光物質(zhì)成分探測技術(shù)相融合,保證熒光成像系統(tǒng)在待測樣品表面每一個位置都具有相同的橫向分辨率,并最終將測得的熒光光譜分布和三維形貌進行精確的對應。此技術(shù)在生物學,醫(yī)學,材料科學以及臨床醫(yī)學診斷領域具有廣泛的應用前景。
聲明:
“差動共焦分立熒光光譜及熒光壽命探測方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)