本發(fā)明涉及海洋檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種剖面海洋測(cè)量?jī)x器的去溫度影響的方法,包括以下步驟:1)對(duì)檢測(cè)模塊的LED光源進(jìn)行溫度校正;2)將步驟1)校正后的數(shù)據(jù)對(duì)化學(xué)反應(yīng)率進(jìn)行校正。本發(fā)明針對(duì)剖面海洋儀器的溫度影響的系統(tǒng)級(jí)校正;校正時(shí)單獨(dú)處理每一個(gè)相互獨(dú)立的影響因素;涵蓋范圍廣,應(yīng)用適應(yīng)性好。
聲明:
“剖面海洋測(cè)量?jī)x器的去溫度影響的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)