本發(fā)明公開(kāi)了一種用于FTIR光譜儀探測(cè)痕量物質(zhì)所在區(qū)域的系統(tǒng)及方法,該系統(tǒng)包括望遠(yuǎn)鏡、望遠(yuǎn)物鏡、望遠(yuǎn)目鏡、分束鏡、成像鏡組、探測(cè)器、望遠(yuǎn)鏡出射光瞳、FTIR光譜儀、可視化相機(jī)。望遠(yuǎn)鏡由望遠(yuǎn)物鏡和望遠(yuǎn)目鏡組成,兩個(gè)通道觀測(cè)視場(chǎng)大小一致,外通道利用0.9?1.7μm波段對(duì)望遠(yuǎn)鏡觀測(cè)到的區(qū)域單獨(dú)成像,內(nèi)通道利用7?14μm波段進(jìn)行有毒有害氣體及化學(xué)戰(zhàn)劑探測(cè)。采用分波段的方法,外通道不會(huì)影響內(nèi)通道的能量利用率,有效保證了痕量物質(zhì)被動(dòng)遙測(cè)的檢出限,外通道成像在探測(cè)器上,可以準(zhǔn)確定位望遠(yuǎn)鏡探測(cè)到的區(qū)域,并匹配該區(qū)域與可視化相機(jī)全畫(huà)幅照片上的對(duì)應(yīng)位置,達(dá)到準(zhǔn)確定位痕量物質(zhì)的目的,能夠有效釋放光學(xué)結(jié)構(gòu)的加工精度和裝調(diào)難度,有利于實(shí)現(xiàn)工程化生產(chǎn)。
聲明:
“用于FTIR光譜儀探測(cè)痕量物質(zhì)所在區(qū)域的系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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