本發(fā)明涉及WIC鑲嵌超導(dǎo)線材銅超比測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,尤其為WIC鑲嵌超導(dǎo)線提供一種質(zhì)量與電阻相結(jié)合的銅超比測(cè)量方法;將鍍錫前鑲嵌圓線與鑲嵌銅槽線進(jìn)行剝離;采用電阻法測(cè)量鑲嵌圓線的銅超比β,通過計(jì)算得出鑲嵌圓線銅的體積,鑲嵌圓線Nb阻隔層與NbTi芯絲的體積;稱重鑲嵌銅槽質(zhì)量并通過計(jì)算獲得鑲嵌銅槽線體積;稱重WIC鍍錫成品線質(zhì)量,鑲嵌銅槽與鑲嵌圓線質(zhì)量之和,兩者相減獲得鑲嵌焊料錫的質(zhì)量并通過計(jì)算獲得焊料錫的體積。大量測(cè)量比對(duì)實(shí)驗(yàn)表明:本發(fā)明的方法與化學(xué)腐蝕法測(cè)量比對(duì)誤差在2%以內(nèi),滿足使用需求。本發(fā)明的方法與化學(xué)腐蝕法相比,效率提升65%以上,且避免了化學(xué)腐蝕法使用HNO
3對(duì)環(huán)境造成的污染。
聲明:
“通過質(zhì)量-電阻法測(cè)量WIC鑲嵌超導(dǎo)線銅超比方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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