本發(fā)明涉及一種雜散電流腐蝕模擬及近表面微區(qū)pH測(cè)量的實(shí)驗(yàn)裝置,包括測(cè)試水槽、
電化學(xué)工作站,測(cè)試水槽側(cè)壁上密封安裝有工作表面朝向測(cè)試水槽內(nèi)的工作電極,測(cè)試水槽內(nèi)水平設(shè)有前部尖端與工作電極工作表面中心相對(duì)的銥/氧化銥pH復(fù)合微電極,測(cè)試水槽蓋板上安裝有調(diào)節(jié)銥/氧化銥pH復(fù)合微電極尖端與工作電極工作表面之間距離的XYZ軸微調(diào)儀。本發(fā)明利用電化學(xué)工作站輸出不同波形的模擬雜散電流,通過(guò)XYZ軸微調(diào)儀精確調(diào)節(jié)工作電極與銥/氧化銥pH復(fù)合微電極之間的距離,實(shí)現(xiàn)對(duì)近金屬表面微區(qū)pH的測(cè)量,從而獲得工作電極厚度、質(zhì)量、表面電化學(xué)電位、表面pH、腐蝕形貌等腐蝕過(guò)程的參數(shù)數(shù)據(jù),用于雜散電流腐蝕機(jī)理與評(píng)價(jià)研究。
聲明:
“雜散電流腐蝕模擬及近表面微區(qū)pH測(cè)量的實(shí)驗(yàn)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)