本發(fā)明涉及一種原位電池界面的軟X射線熒光吸收譜測(cè)試系統(tǒng)及方法,測(cè)試系統(tǒng)包括真空腔體,所述真空腔體內(nèi)設(shè)置有調(diào)節(jié)支架和置放樣品的樣品臺(tái),所述調(diào)節(jié)支架上設(shè)置有硅漂移探測(cè)器,所述真空腔體外設(shè)置有向真空腔體內(nèi)的所述樣品發(fā)射軟X射線的同步輻射X射線裝置,所述硅漂移探測(cè)器采集所述樣品的XRF熒光發(fā)射譜并將其傳輸至設(shè)置在真空腔體外的光譜處理裝置。本發(fā)明的系統(tǒng)通過向樣品發(fā)射變能量的同步輻射軟X射線,并收集XRF熒光發(fā)射譜,從而可在量子點(diǎn)制備的原位過程中,對(duì)TiO2/量子點(diǎn)界面的化學(xué)結(jié)構(gòu),包括化學(xué)價(jià)態(tài),雜質(zhì)態(tài),電子結(jié)構(gòu)等進(jìn)行實(shí)時(shí)研究。
聲明:
“原位電池界面的軟X射線熒光吸收譜測(cè)試系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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