本申請的實(shí)施例提供一種探測裝置和方法,探測裝置包括:照射部,用于發(fā)射激光照射待測樣品以生成等離子體;引導(dǎo)部,所述引導(dǎo)部與所述照射部連接,以將所述等離子體中的負(fù)離子引出;加速器,所述加速器與所述引導(dǎo)部連接以接收引導(dǎo)部引出的所述負(fù)離子,所述加速器將所述負(fù)離子加速后剝離形成正離子并繼續(xù)加速;探測部,與所述加速器連接,以對所述加速器射出的正離子進(jìn)行探測。根據(jù)本申請實(shí)施例的探測裝置和方法能夠直接對待測樣品進(jìn)行探測而無需進(jìn)行化學(xué)制備,從而能夠?qū)崿F(xiàn)待測樣品的原樣探測且效率較高。
聲明:
“探測裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)