本發(fā)明涉及一種電極材料測(cè)量領(lǐng)域,尤其是涉及一種電極材料應(yīng)變測(cè)量方法及裝置。所述如下:光源發(fā)出光線至所述電池的電極上,所述待測(cè)電池的電極表面預(yù)先被濺射金膜,所述金膜厚度為9?11nm,所述金膜被濺射速度為0.2nm/s,所述待測(cè)量電池與所述光源被設(shè)置在所述恒溫箱內(nèi),且所述待測(cè)量電池及所述光源均與所述恒溫箱內(nèi)壁不接觸,所述光源中部具有一漏光孔;CCD相機(jī)采集通過所述漏光孔進(jìn)入相機(jī)鏡筒的光,拍攝電池電極表面的散斑圖像;處理裝置對(duì)所述CCD相機(jī)的拍攝圖像進(jìn)行處理,以獲取所述待測(cè)量電池的電極應(yīng)變參數(shù)。本例實(shí)施時(shí),在電極表面濺射了金膜形成了穩(wěn)定存在且隨機(jī)分布的散斑圖案,可在
電化學(xué)環(huán)境中穩(wěn)定存在,使電極應(yīng)變過程中產(chǎn)生的穩(wěn)定的散斑圖案。
聲明:
“電極材料應(yīng)變測(cè)量方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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