本發(fā)明涉及一種折沖式多級(jí)探測(cè)室,包括:若干級(jí)上部敞口的探測(cè)室本體;每個(gè)探測(cè)室本體上設(shè)有一伸入其內(nèi)部的氣體導(dǎo)管,且相鄰兩級(jí)探測(cè)室本體中,下一級(jí)探測(cè)室本體上的氣體導(dǎo)管的進(jìn)氣端還接通上一級(jí)探測(cè)室本體,沿進(jìn)氣方向的最后一級(jí)探測(cè)室本體還還設(shè)有氣體排出口;以及密封設(shè)置在所述探測(cè)室本體敞口處的
電化學(xué)式氣體傳感探頭。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的探測(cè)室結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,可以批量生產(chǎn),操作快速靈活,有利于推廣,能夠有效縮短探頭響應(yīng)時(shí)間,易于清潔等。
聲明:
“折沖式多級(jí)探測(cè)室” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)