本發(fā)明公開一種壓力原位XRD測試裝置,包括上法蘭組件和下法蘭組件,上法蘭組件包括調(diào)平法蘭底座、壓片、T型絕緣固定環(huán)、調(diào)平法蘭環(huán),T型絕緣固定環(huán)和調(diào)平法蘭底座連接,壓片設(shè)置在調(diào)平法蘭底座內(nèi),調(diào)平法蘭環(huán)和調(diào)平法蘭底座連接;下法蘭組件包括下法蘭、調(diào)壓螺絲、調(diào)壓彈簧、彈簧壓臺,調(diào)壓螺絲和彈簧壓臺活動連接,彈簧壓臺與壓片接觸設(shè)置,下法蘭和調(diào)壓螺絲連接,下法蘭和調(diào)平法蘭環(huán)連接;本發(fā)明通過調(diào)節(jié)調(diào)壓螺絲和彈簧壓臺之間的相對位置,可調(diào)節(jié)調(diào)壓彈簧的壓縮狀態(tài),從而可調(diào)節(jié)對待測電極片的壓力狀態(tài),從而可通過簡單的操作,將機械壓力作用在電池電極片,實現(xiàn)不同壓力下的
電化學(xué)過程原位XRD測試。
聲明:
“壓力原位XRD測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)