本發(fā)明提供一種電池測(cè)試中間體的制備方法,包括以下步驟:S1.控制薄膜沉積裝置在基板上依次沉積厚度均一的第一集流層、第一電極層、電解質(zhì)層、第二電極層和第二集流層;S2.控制模罩罩設(shè)于第二集流層的表面,模罩包括多個(gè)間隔設(shè)置的面積不同的模板;S3.控制離子束刻蝕裝置沿模板間隔區(qū)域的縱向依次刻蝕第二集流層、第二電極層、電解質(zhì)層和第一電極層,以使間隔區(qū)域?qū)?yīng)的第一集流層裸露。通過該制備方法能夠快速得到批量的材料、厚度一致,但僅橫截面積不同的電池單體,由該制備方法得到的電池測(cè)試中間體,方便對(duì)多個(gè)電池單體進(jìn)行批量化測(cè)試,并且能夠準(zhǔn)確地反映出橫截面積的差異所帶來的對(duì)電池單體的
電化學(xué)性能的影響。
聲明:
“電池測(cè)試中間體的制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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