本發(fā)明公開一種基于電偶極旋轉(zhuǎn)散射光探測的納米微粒識別裝置和方法,依據(jù)納米微粒的散射模型,通過微粒懸浮操控和散射光探測分離的方法,實(shí)現(xiàn)光阱中的微粒形態(tài)的原位探測。具體為利用兩束線偏振激光,第一束激光懸浮納米微粒,并通過偏振方向調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)納米微粒;第二束線偏振光偏振方向不變,激發(fā)特定偶極方向散射光;通過監(jiān)測固定位置處第二束激光激發(fā)的散射光光強(qiáng)的變化推知納米微粒極化率的變化,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)粒子形態(tài)識別。本發(fā)明的方法可以為真空光鑷領(lǐng)域納米微粒的原位結(jié)構(gòu)如單球、雙球等判定提供高效解決方案;同時對于生物化學(xué)以及材料應(yīng)用領(lǐng)域中的納米微粒標(biāo)定提供輔助方法。
聲明:
“基于電偶極旋轉(zhuǎn)散射光探測的納米微粒識別裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)