用于測量包括至少兩種化學(xué)組分的樣品(6,26,36,46,56,82)的化學(xué)組成的方法,包括以下步驟:-用光源(14)照射(74)積分腔(1,2a,80,90),-將所述樣品(6,26,36,46,56,82)帶入到所述積分腔(1,2a,80,90)中,-使用傳感器(19)檢測(79)來自所述積分腔(1,2a,80,90)的光信號,以及-通過光譜分析來顯示(75)所述樣品(6,26,36,46,56,82)的化學(xué)組成。所述樣品(6,26,36,46,56,82)在所述積分腔(1,2a,80,90)內(nèi)的至少一個維度上形成了光學(xué)薄的層。本發(fā)明還包含關(guān)于用于測量樣品的化學(xué)組成的光學(xué)測量設(shè)備以及方法的獨立權(quán)利要求。
聲明:
“光學(xué)采樣設(shè)備以及使用該采樣設(shè)備的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)