本發(fā)明涉及電力系統(tǒng)中局部放電對固體絕緣介質(zhì)破壞性的研究方法,包括:步驟一、制備試驗樣品,樣品中注入一個圓形氣泡;步驟二、安裝試驗樣品,將試驗樣品夾持在上下兩電極之間;步驟三、在局部放電測量設(shè)備上檢測試驗樣品,獲得不同交流電壓加壓下的試驗數(shù)據(jù);步驟四、在顯微鏡下觀測樣品的老化程度;步驟五:用Raman光譜儀分析獲得老化部分的化學(xué)成分。本研究方法集中于發(fā)現(xiàn)在硅膠中空氣間隙的老化發(fā)展進程,并通過Raman光譜儀分析獲得樣品老化部分的化學(xué)成分,進而對電力系統(tǒng)中局部放電對固體絕緣介質(zhì)破壞性提供了一種新的研究思路。
聲明:
“電力系統(tǒng)中局部放電對固體絕緣介質(zhì)破壞性的研究方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)